公司簡介：

Jandel工程有限公司提供了可調節(jié)高度探針臺的自動Z運動(AFPP)用于進行四點探針測量。

AFPP可以用于測量各種各樣的小樣本大小薄層和300毫米晶圓錠250毫米高(厚的樣品安置在請求)。

可以使用AFPP獨立提供的電源適配器,或者可以動力和由Jandel RM3000使用單一鉛連接這兩個工具之間。

英國Jandel可調節(jié)高度自動探頭產品類別：

l jandel四探針探頭

l jandel四探針

l jandel探頭

l jandel探針臺

主要型號：

設備尺寸

1.可調節(jié)高度測試臺：W×L×H（mm）320×370×8

2.AFPP主機：W×L×H（mm）64×215×67

3.可調節(jié)高度軸桿:d（mm）19；L（mm）200（可定制額高度到1000mm）

A-D型號和E-H型號

產品介紹：

l 可測晶片直徑：直徑d≤300mm

l 可測晶片厚度：高度h≤250mm

l 自動停機：具有接觸到樣品的傳感器（通過傳感器檢測接觸到樣品）

l 手動控制：遠程控制

l Jandel-RM300能夠提供電源和樣品接觸

優(yōu)勢特點：

系統配置

組成部件（產品配置）：

1.測試臺——1個

2. AFPP主機——1個

3.可調節(jié)高度的軸桿——1根

4.四探針探頭——1個

5.電纜線——一根

英國Jandel可調節(jié)高度自動探頭主要應用：

用于半導體行業(yè)以及大學，實驗室工作和研究應用的電阻率測量設備。